Contour GT系统利用白光干涉来测量纳米级至微米级的表面形貌，并且具有业界最大视场下的最高垂直分辨率。仪器具备多种倍率物镜（1.25倍-100倍），可以表征具有不同表面形状和结构的样品。而且在任何放大倍数下，系统的纵向范围都能够达到亚-埃至毫米级，其灵活性无可比拟。
Bruker专利技术-高亮LED双光源照明-使测量结果不管在科研还是工业环境中都具有超高的可靠性和可重复性。Contour GT系列拥有同类产品最佳的易用性：简洁的操作界面通过对测量和数据获取过程的简化大大提高了系统和人力效率；独特的可视工作流程工具提供了直观的分析选项。
Contour GT系列光学轮廓仪可广泛的应用于：精密机械，光伏材料，电子材料，航空航天，光学材料和医疗器械等领域。
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NPFLEX 3D 光学轮廓仪是目前市场上最具灵活性的非接触式大样品三维表面形貌测量系统。在数据密度、分辨率和重复性等方面， 基于白光干涉原理的NPFLEX 3D远远超过了接触式测量仪器所能达到的水平，因此完全可以作为独立的测量方案应用。 NPFLEX 3D具有突破性的开放式样品台设计，使样品的表面测量角度超过了300o，解决了以往由于样品尺寸过大和形状不规则造成的测量难题。另外，NPFLEX所具有的快速数据获取、自动缝合和多重分析等功能更是大大提高了工作效率。
NPFLEX 3D 非接触式光学轮廓仪可广泛应用于航空航天，汽车工业，精密机械制造和医学整形材料等领域。
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