JBD-300B低温冲击试验机:CST-50冲击试样缺口投影仪

更新时间：2026-07-06 14:47:00

JBD-300B低温冲击试验机

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产品说明
该机用于测定金属材料在低温动负荷下抵抗冲击的性能。本机为半自动式冲击试验机，电动扬摆、
冲击，并可利用冲断试样后的剩余能量自动扬摆，做好下次试验准备，工作效率高。JBD—300B型
采用半导体制冷，温度调节均为电气自动控制，配备专用送样装置自动送样，试样自动端面定位，
确保试样出炉至冲击时间不大于2秒，满足金属低温夏比冲击试验方法的要求。
技术参数
1、冲击能量：150J 300J
2、摆锤扬角：150°
3、冲击速度：5.2m/s
4、冲击刀刃夹角：30°
5、钳口圆角半径：R1～1.5mm
6、冲击刀刃圆角半径：R2～2.5mm或R8.0～8.5mm
7、试样规格：10×10×55mm
8、制冷方式：半导体制冷
9、低温范围：0～－60℃
10、控温精度：波动±1.5℃，梯度2℃
11、一次装试样：20个
12、电源：380V/1400W
13、外形尺寸：1500×850×1340mm
14、重量：850kg
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CST-50冲击试样缺口投影仪

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功能与特点CST-50型冲击试样缺口投影仪是为检查夏比V型或U型冲击试样缺口质量而设计、开发的一种专用光学仪器，试样放大后的影像与刻在投影屏上的冲击试样缺口标准样板图进行对比，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，对比直观，操作简单，效率高。是理化试验室的必备专用设备。主要技术参数投影屏： 200×200mm放大倍数： 50X光源： 12V 100W（卤钨灯）电源： 220V 50Hz 150W外型尺寸： 515×224×603mm重量：约18Kg