手动&自动压片机:AFM探针，原子力显微镜探针

更新时间：2026-01-22 19:31:18

手动&自动压片机

访问量：535
型号：Vaneox
品牌：FLUXANA
手动&自动压片机
FLUXANA & HD ELEKTRONIK——XRF应用的专业提供商，为您提供全套的解决方案
工具:
 压片机模具
 XRF –混合器填充工具
 BOREOX 研磨及配件
 铝杯
 薄片
 粘合剂
 样品储存

手动压片机Vaneox - 25t
最大压力 25t
压力显示 0-25t
活塞 115mm
冲程 30mm
螺旋杆直径 40mm
螺旋杆伸缩长度 200mm
尺寸 (长 x 宽 x 高) 340 x 840 x 475mm
压面间最小距离 70mm
压面间最大距离 170mm
重量 110kg

自动压片机Vaneox - 25t
最大压力 25t
压力显示 0-25t
活塞 115mm
冲程 30mm
螺旋杆直径 40mm
螺旋杆伸缩长度 200mm
压面间最小距离 70mm
压面间最大距离 170mm
电压 230V/50Hz, 110V/60Hz
尺寸 (长 x宽 x 高) 340 x 840 x 475mm

自动压片机Vaneox - 40t
„ 全球第一台台式压片机
„ 集成化模具，适用于所有通用的制备技术，例如32mm,40mm,40/32mm垫圈，51.5/35mm垫圈。同时也可根据客户的尺寸需求进行定制，有无垫圈均可。
„ 10个不同的应用程序。
3 步阶梯式程序设计。
„ 压片室有内置光源。
最大压力 40t
压力显示 0-40t
活塞 100mm
冲程 60mm
电压 230V/50Hz, 110V/60Hz
尺寸 (长 x 宽 x 高) 340 x 490 x 550mm
重量 120kg

操作台
 Vaneox 可以安装固定在操作台上;„
 桌子下面的抽屉里可以放一些必备的配件
 钢制结构，强健耐用。
 高750 mm, 宽910 mm,深760 mm

AFM探针，原子力显微镜探针直排水加湿器、工业加湿器、湿膜加湿器循环水加湿器、工业加湿器、湿膜加湿机供应湿膜加湿器、加湿机、风管湿膜加湿器便携式超声波流量计供应常规五参数测定仪

AFM探针，原子力显微镜探针

型号：AFM探针
品牌：Bruker
探针，AFM探针，原子力显微镜探针，veeco探针，Bruker探针

探针的工作模式：主要分为扫描(接触)模式和轻敲模式
探针的结构：悬臂梁+针尖
探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。
制作工艺：半导体工艺制作

常见的探针类型：
1. 导电探针（电学）：金刚石镀层针尖，性能比较稳定
2 .压痕探针：金刚石探针针尖（分为套装和非套装的）
3. 氮化硅探针：接触式（分为普通的和锐化的）
4. 磁性探针：应用于MFM，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备
5. 电化学探针（STM）: 电学接触式和电学轻敲式
6. FIB大长径比探针：测半导体结构，专为测量深的沟槽（深孔）以及近似铅垂的侧面而设计生产的。

Popular Probes & Applications
Application: High resolution topographical imaging of a wide variety of samples.
Probe Model: TESP, RTESP, OTESPA , NCHV, VL300
Specifications: 40 N/m, 300 kHz
AFM Mode: Tapping

Application: High resolution imaging for softer samples (Polymers, biological, and thin films)
Probe Model: FESP, RFESP, OLTESPA, FMV, VLFM
Specifications: 2.8 N/m, 75 kHz
AFM Mode: Tapping or Force Modulation

Application: Magnetic and electrical measurements.
Probe Model: MESP, SCM-PIT, OSCM-PT, SCM-PIC
Specifications: 2.8 N/m, 75 kHz
AFM Mode: MFM, EFM, SCM, Conductive AFM / TUNA

Application: Liquid Imaging, Force Measurement and pulling, Contact mode imaging in air
Probe Model: MSCT, NP-S, OTR4, OBL
Specifications: .006-.58 N/m
AFM Mode: Contact or Tapping

模式常用探针型号
接触模式
– ESP
– MPP-31100-10
– SNL-10
– DNP-10
– MLCT
– MSNL-10

轻敲模式
空气液体
– MPP-11100-10 (RTESP)
– TESP
– OTESPA
– FESP – SNL-10
– DNP-10
– MLCT
– MSNL-10

峰值力轻敲模式
– ScanAsyst-Air
– ScanAsyst-Fluid
– ScanAsyst-Fluid+

智能成像模式
– ScanAsyst-Air
– ScanAsyst-Fluid
– ScanAsyst-Fluid+
– ScanAsyst-Air-HR

轻敲模式& 相位成像模式
– MPP-11100-10 (RTESP)
– TESP
– OTESPA
– FESP

定量纳米力学性能测试模式
– MPP-11120-10 (RTESPA)
– MPP-12120-10
– MPP-13120-10
– PDNISP-HS
– ScanAsyst-Air

磁力显微镜模式
– MESP
– MESP-HM
– MESP-LM
– MESP-RC

静电力显微镜模式
– SCM-PIT
– MESP
– MESP-RC
– OSCM-PT

峰值力隧道电流显微镜&导电原子力显微镜模式
– SCM-PIC
– SCM-PIT
– DDESP-FM
– PFTUNA

更多探针信息，请咨询铂悦仪器，谢谢！