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IC卡动态弯扭试验机:芯片卡滚压测试仪

更新时间:2026-10-07 00:25:39

供应IC卡动态弯扭试验机


HY(IC)IC卡动态弯扭试验机

智能卡动态弯扭试验机技 术 参 数

智能卡动态弯扭试验机配 置



智能卡动态弯扭试验机本仪器针对性IC卡在国标GB/T 16649.1,国标GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998国际标准等试验标准中的弯曲、扭矩的试验; 完全符合以上标准。

外形尺寸:L670 X W380 X H220

儀器重量:70kg

電 壓:AC220V±5%

功 率:35W

測試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

測試周期:1~9999次

扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm

正反向各15°,总扭曲角度30°

长边位移量为20mm(+0.00mm,-1 mm)

长边小位移量为2mm±0.50mm,

短边大位移量为10mm(+0.00mm,-1 mm)

长边小位移量为1mm±0.50mm,

夹具安装尺寸完全按照国家标准执行。





1、电子标签弯扭试验机主机一台;

2、配置:

1)常用调试工具一套:

2)STK交流调速电机系统一套;

3)高精度齿轮减速系统一套;

4)高精度光电计数器一套

4)高精度计数系统一套;

3、产品用途:

用于检测磁条卡,IC芯片卡,集成电路卡,等卡的弯曲和扭曲性能测试。

公司承诺:

1.购机前,我们专门派技术人员为您设计的流程和方案

2.购机后,将免费指派技术人员为您调试安装

3.整机保修一年,产品终身维护

4.常年供应设备的易损件及耗品确保仪器能长期使用
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供应芯片卡滚压测试仪


芯片卡滚压测试仪产品介绍:«识别卡测试方法»ISO/IEC10373-3-2001,智能卡三轮压力测试仪根据IC卡CQM项目对卡三轮测试,适用于对识别卡、带触点的集成电路卡进行三轮往复循环测试。
HY(SL)三轮测试仪

芯片卡滚压测试仪根据Master 卡CQM项目对卡进行三轮测试。卡被放到机器中,测试轮将循环测试100次,芯片前方滚动50次,芯片后方滚动50次,循环频率为0.5Hz,向下的压力为8N。经过测试,检查芯片情况,芯片应该是完好无损且功能正常。测试仪配有额外的一个15N砝码用于进行CQM标准推荐的测试。

芯片卡滚压测试仪:
1.型号:HY(SL)
2、测试轮循环次数:前后循环各50次
3、电源 AC220V
4、外形尺寸(mm): 长255 ×宽235 ×高285
5、重量(KG):12kg
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