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标准试验指,试验探棒,IP试验探针:晶振测试仪 |
更新时间:2025-11-08 03:51:03 |
标准试验指,试验探棒,IP试验探针访问量:921 型号:LCX—101 品牌:LCX 标准试验指,试验探棒,试验直指,试验指针销 1、 A型探棒(试具A探针) 产品概述: 符合IEC61032图1试具A、GB16842试具A、GB4208IP1、IEC60529IP1、IEC60065等标准要求。用于防止手背触及的防护检验。 ●可订制带50±5N推力。 2、B型探棒(标准试验指) 产品概述: 符合GB4706、GB2099、GB4943、GB4208IPX2、GB3883图1、IEC61032图2试具B、IEC950图2A、IEC60884、IEC60335、GB/T16842试具B、UL507、EN60529图1、UL1278图8.4等标准要求。用于防止手指触及或防触电检验的防护检验。 ●可订制带10±1N推力。 3、C型探棒(试具C探针) 产品概述: 符合IEC61032图2试具C、IEC60529IP3、GB4208IP3、GB/T16842试具C、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等标准要求。用于防止手持工具触及的防护检验。 ●可订制带3±0.3N推力。 4、D型探棒(试具D探针) 产品概述: 符合IEC61032图4试具D、IEC60529IP3、GB4208IP4、GB/T16842试具D、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等标准要求。用于防止手持金属丝触及的防护检验。 ● 可订制带1±0.1N推力。 5、 1号探棒(试验钢球) 产品概述: 符合IEC61032图5试具1、IEC60529IP1、GB4208IP1 等标准要求, 直径为50+0.05。用以检验防止直径大于等于50㎜的固异物进入设备内部。 ● 可订制带手柄。 6、2号探棒(试验钢球) 产品概述: 符合IEC61032图6试具2、IEC60529IP2、GB4208IP2 等标准要求,直径为12.5+0。2。用以检验防止直径大 7、11号探棒(试验直指) 产品概述: 符合IEC61032图7试具11、GB/T16842试具11、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000、IEC60335、GB4706等标准要求。用于检验防止人体触及部件,也可用于检验外壳的孔或外壳内部挡板的机械强度。 ●可订制带10~50N推力 ●可订制带10~75N推力 ●可订制带 5~30N推力 8、12号探棒(试验长销) 产品概述: 符合IEC61032图8试具12、GB/T16842试具12等标准要求,用于检验带电部件或机械部件是否被触及。 9、 13号探棒(试验销) 产品概述: 符合IEC61032图9试具13、GB/T16842试具13、IEC60950图2B、IEC60335、GB4706、GB8898、IEC60065等标准,用于检验0类设备和Ⅱ类设备中危险的带电部件是否被触及。 10、14号探棒(试具14探针) 产品概述: 符合IEC61032图10试具14要求,用于检验通过电气插座的防护外罩能否触及内部的危险带电部件,配尼龙手柄。 11、17号探棒(试具17探针) 产品概述: 符合IEC61032图11试具17要求,用于检验电动玩具的带电部件是否被触及,配尼龙手柄。 12、 18号探棒(儿童试验指) 产品概述: 符合IEC61032图12试具18要求,用于模拟大于36个月而小于14岁的儿童是否触及危险部件。 13、19号探棒(儿童试验指) 产品概述: 符合IEC61032图13试具19要求,用于模拟36个月及以下的儿童是否触及危险部件。 14、31号探棒(试具31探针) 产品概述: 符合IEC61032图14试具31、GB/T16842试具31要求,用于检验残剩余食品处理装置的碾磨系统的危险机械部件是否被触及。 15、 32号探棒(试具32探针) 产品概述: 符合IEC61032图15试具32、GB/T16842试具32要求,用于检验风扇外罩的防止触及危险机械部件的作用,配尼龙手柄。 16、41号探棒(试验探针) 产品概述: 符合IEC61032图16试具41、GB/T16842试具41、IEC60335、GB4706、GB8898、IEC60065等标准要求,用于检验灼热部件被触及。 11、 43号探棒(试具43探针) 产品概述: 符合IEC61032图17试具43、GB/T16842试具43等标准要求,用于检验固定式或便携式可见热辐射取暧器的保护。 晶振测试仪供应PTL弹簧冲击锤,弹簧冲击锤 供应弹簧冲击锤,弹簧冲击器交联电缆切片机,电线电缆削片机 耐压测试仪/接地电阻测试仪波纹补偿器 |
晶振测试仪型号:CX-118A 品牌:创鑫 晶振测试仪 产品简介: 一、CX-11A是高性价比的晶振测试系统,采用微处理器技术,实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。它测量精度高,灵敏度高,速度快,闸门时间可选;具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能;中心频率(标称频率)F0、分档值Pr1 ~Pr8 (ppm) 、上限频率FU 、下限频率FL可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。。 具有PPM测量功能,预置频率F0可任意设置。该功能特别适合于晶体振动器生产企业,测试结果显示直观。 主要功能:频率测量,PPM测量,周期测量,数据累计 ,功能设定 二、主要技术指标: 频率测量范围: 0.1Hz — 100MHz 频率测量灵敏度:25mv PPm测量:10 Hz — 100 MHz PPm测量精度:≤1 PPm (1×10-6) (可扩展0.1PPm , 0.01 PPm) 中心频率:0 Hz — 100 MHz任意设定 误差设置范围设定: ± 1 — ± 999 PPm任意设定。 闸门设置:四档 ,0.01s、 0.1s、1s三档固定, 1档闸门1ms — 10s可设, 每1mS为一阶梯任意设定。 周期测量范围:100 ms — 10 s 时基频率:10MC 晶振稳定性:5 ×10-7 / 日 |
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