四探针电阻率测试仪/多晶硅单晶硅分选仪/硅材料测试仪:导电型号鉴别仪/PN测试仪/PN鉴别仪

更新时间：2026-09-25 19:23:04

供应四探针电阻率测试仪/多晶硅单晶硅分选仪/硅材料测试仪

　　　　　　　　　　　　 SG-III型四探针电阻率测试仪

　　SG-III型四探针电阻率测试仪是用来测量母合金、晶块、晶片、碎片料、米粒料、头尾料、埚底料、边皮料等材料方块电阻的小型仪器。是生产线上大批量选料的理想仪器，具有简便的比较功能，操作方便。

本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计，它主要由电器测量部份（主机）及四探针探头组成(需要时可配测试台)。样品测试电流由高精宽的恒流源提供，随时可进行校准，以确保电阻率测量的准确度。对0.001～1.999Ω*cm标准样片的测量误差不超过±5%。

（1）测量范围：
　　　可测量电阻率：　　0.001～1.999Ω*cm。

最大电阻测量误差（按JJG508-87进行）：≤±5%

（2）恒流源：
　　　　输出电流： 10mA～100mA连续可调，误差?±0.5%。

　　恒流精度：各档均优于±0.1%

（3）供电电源：
　AC：　220V ±10%（保护隔离）　

　　　　　　　 50/60HZ　　　　

功率5W

（4）四探针探头；

　a.钨钢探针　　　　　　　　　　

　b.间距1±0.01mm　　

c.针尖绝缘电阻≥100mΩ　　　　　

d.机械游移率?1.0%　　　

e.探针压力 12-16牛顿（总力）

（5）使用环境：
　　　　温度23±2℃　　　　　相对湿度≤80%　

无较强的电场干扰　　　无强光直接照射

(6) 使用方法；

　　a.　使用仪器前将电源线、测试笔联接线与主机联接好，电源线插头插入～220V座插后，开启背板上的电源开关，此时前面板上的数字表、发光二极管都会亮起来。探针头压在被测单晶上，右边的表显示从1、4探针流入单晶的测量电流，左边的表显示电阻率或2、3探针间的电位差，电流大小通过旋转前面板右上方的电位器旋钮加以调节。

　　　　b.　校准设备：用样块校准设备。

　　　　c.　测试: 用四探针接触硅材料，以探针压下三分之二为准，待仪器显示数字稳定即可.

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　　　 SG-Ⅳ半导体导电型号鉴别仪是快速鉴别硅晶材料的导电类型“P”和“N”的测量仪器，测量范围宽，硅材料电阻率从0.1～104Ω＊cm.仪器采用进口16位单片IC电路为核心，利用数字采集滤波技术，并用“P”和“N”数码直接显示，因而使测量的准确度和稳定性大幅度提高。仪器采用手持式三探针探头，使用简单，操作方便。在太阳能硅材料分选时，采用整流法对?0.1Ω＊cm的材料具有声光报警功能，高效快速。

主要指标
1.测量范围：硅单晶材料电阻率0.1～104Ω＊cm
2.可测量材料：半导体硅棒和硅片、硅碎颗粒
3.显示方式：P、N直显
4.重参报警功能；声光
5.设定；0.1档、0.5档报警
6.测试探头：手持式三探针（高速钢），
针尖距2.5mm探针直径1mm。