孔径测量仪:X射线荧光测厚仪标准片

更新时间：2026-09-24 19:47:00

供应孔径测量仪

孔径测量仪Kwik-Chek快测孔径规被设计用来快速量测细小平整或凹孔的直径。四种型号有效的含括了孔径的范围，从0.010”-0.380”或0.25mm-9.50mm。此种孔径规的工作原理是藉由滑动的尖针到直线读出0.001”或0.02mm刻度。此高功能的孔径规，特别适合量测薄金属板上的小孔、塑料制品、印刷电路板、燃油喷射嘴、薄壁管子Hole Gauge, Model 10, 0.010" - 0.028"　　　　Hole Gauge, Model 20A, 0.025" - 0.13"　　　　Hole Gauge, Model 30A, 0.13" - 0.255"　　　　Hole Gauge, Model 40A, 0.255" - 0.380"　　　　Hole Gauge, Model 10AM, 0.25mm - 0.70mm　　　 Hole Gauge, Model 20AM, 0.60mm - 3.30mm　　　 Hole Gauge, Model 30AM, 3.30mm - 6.50mm　　　 Hole Gauge, Model 40M, 6.50mm - 9.50mm 供应X射线荧光测厚仪标准片供应Rosemount644温度变送器供应禾威WPH410系列pH控制器 ORP控制器供应WALCHEM禾威WCU410镀铜蚀铜自动添加控制器供应WALCHEM禾威WNI410镀镍自动添加控制器供应速度开关

供应X射线荧光测厚仪标准片

X射线荧光测厚仪标准片

　　应用：适用于Fischer、Oxford、CMI、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各厂牌X-ray（X射线测厚仪）、 Beta-ray及磁感式与涡电流等多种原理之各种规格与尺寸；
特色：标准片A2LA校正认证，质量精良，精度高、稳定性好；
X-Ray、 Beta-Ray、磁感式、涡电流式专用标准片；
　　测厚仪标准片又名膜厚仪校准片，专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。
　　测厚仪标准片一般分为单镀层片，双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。如:
单镀层：Ag ，双镀层：Au/Ni ，三镀层：Au /Ni ，合金镀层：Sn-Pb ，化学镀层：Ni-P 。（所有标准片都附有NIST认证证书）
我们可以根据客户不同的金属元素、镀层结构及镀层厚度等要求向美国工厂定做合格的标准片，并附有标准片厚度值证书.
　　我们除了可以提供测厚仪标准片之外，还可以提供β射线测厚仪的标准片和库仑测厚仪的标准药水。并有X射线测厚仪、β射线测厚仪、磁感应测厚仪、涡电流测厚仪、库仑测厚仪等出售。