详细说明
本仪器专门针对贵金属测试,采用最新的科技分析X荧光光谱,对贵金属成份进行无损快速分析,该仪器采用最新Si-PIN探测器,其分辨率为149±5eV,运用领先于全球的基本参数法,能够准确无误地分析出黄金、铂金等材料中含有的其它少量杂质元素,其稳定性和可靠性均处于业内领先水平。