【探针】探针厂家

	【探针】探针厂家
	AFM原子力显微镜探针qp-BioAC [摘要]qp-BioAC探针三个悬臂梁，悬臂梁:力常数0.06N/m0.1N/m0.3N/m;应用范围：生物探针、液体探针；优势：力常数和共振频率波动范围小，特别适用于的定量纳米力学研究和生物测试...
	供应四探针电阻率测试仪/单晶硅分选仪/单晶硅电阻率测试仪 [摘要]SG-VII型四探针电阻率测试仪 SG-VII型四探针电阻率测试仪是用来测量母合金、晶块、晶片、碎片料、米粒料、头尾料、埚底料、边皮料等材料方块电阻的小型仪器。是生产线上大批量选料的理想仪器，具有简便的比较功能，操作方便。本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计，它主要由电器测量部份（主机）及四探针探头组成(需要时可配测试台)。样品测试电流由高精宽的恒流源提供，随时可进行校准，以确保电阻率测量的准确度。对0.0001～1.9999Ω*cm标准样片的测量误差不超过±5%。（1）测量范围：...
	IP40试验探针 [摘要]D型探棒\|IP4X试验探棒\|IP40试验探针产品概述：符合IEC61032图4试具D、IEC60529IP3、GB4208IP4、GB/T16842试具D、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等标准要求。用于防止手持金属丝触及的防护检验。可订制带1±0.1N推力。技术参数：1、探棒长度：100mm2、探棒直径：1mm3、档球直径：35mm4、手柄直径：10mm5、手柄长度：100mm6、根据IEC61032图4(TestprobeD)、GB/T4208-2008表6（第一位特征数字4/5/6）。...
	双电四探针粉末电阻率测试系统（智能型） [摘要]FT-8200双电四探针粉末电阻率测试系统（智能型）大量程方阻测量范围、最小测量到-5次方或-6次方，采用高精度集成电路模块；智能一体化结构设计，整体大方，USB，232通讯接口，高精恒直流恒流源，提供四探针法和四端法两种测量模式并存，全程采用PC软件操作，自动测试过程数据曲线及图谱分析，实时分析压强/压力与电阻，电阻率，电导率的变化关系，及报表生成，存储，打印等；二、满足标准：MeetStandard1）四探针测试仪满足GB/T1551、GB/T1552-1995，ASTMF84美国A.S.T.M标准。Thefour-probetestermeetsGB/T1551,GB/t...
	专业销售日本三丰表面粗糙度仪SJ-301，探针 [摘要]产品详细介绍机型SJ-301型号178-953-2178-954-2178-952-2178-955-2量测单位mminch/mmmminch/mm量测速度0.25mm/s,0.5mm/s;回速:1mm/s量测长度12.5mm量测重量190g检出器范围350um(-200um~+150um)测头钻石测杆半径40mm测头半径5um(200uin)2um(80uin)量测出力4mN0.75mN量测段落长度0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm量测段落数量X1,X3,X5,XL分辨率/范围0.4um/350um;0.1um/100um0.05um/50um;0.01um/10um数据输出RS-232C,内键打印机电源变压器7.5V,1.5W/内键充电器充电时间/使用次数15小时/1000次量测省电装置无操作后5分钟断...
	FT-351高温四探针电阻率测试系统 [摘要]FT-351高温四探针电阻率测试系统一、概述：采用由四探针双电测量方法测试方阻和电阻率系统与高温试验箱结合配置专用的高温测试探针治具，满足半导体材料因温度变化对电阻值变化的测量要求，通过先进的测控软件可以显示出温度与电阻，电阻率，电导率数据的变化曲线，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。二、适用行业：广泛用于：生产企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜的方...
	AFMtapping探针-布鲁克Rtespa-300 [摘要]布鲁克轻敲模式探针旗舰产品——Rtespa-300报价及更详细介绍请向sales@soptech.com.cn发邮件索要。咨询电话：1364122660710根一盒装硅探针，用于TappingMode™和其他非接触模式，适用于各种AFM。新的MPP系列探针，进行了技术改良及优化，拥有更优秀的成像：加工中精准控制的悬臂几何尺寸、锐利的针尖，减小了AFM最小可检测尺寸，更长的针尖减小挤压膜阻尼。MPP系列探针是高性能和高质量成像的AFm探针行业标杆，适用于各种各样的样品。新的设计改进了以下几方面:•更严格的尺寸规格，以改善探针的一致性...
	供应四探针电阻率测试仪探笔/电阻率测试笔/硅料电阻测试笔 [摘要]四探针探头：a.钨钢探针b.间距1±0.01mmc.针尖绝缘电阻≥100mΩd.机械游移率?1.0％e.探针压力12-16牛顿（总力）...
	20N插座保护门探针/ [摘要]插座保护门试验探针一、概述：插座保护门试验探针是满足IEC60884&GB2099标准要求，主要用于检验带保护门插座的防触电保护和正常操作的功能。根据相关标准要求，插座保护门试验探针一套两支，分别带1N、20N推力。本说明书重点对防触电保护试验作出说明。二、使用方法先用20N插座保护门试验探针依次三个方向施加在保护门的最不利的位置，同一位置三个方向施加20N的力约5秒钟，探针金属部分不能触及带插座电部件。注意：操作期间不能旋转探针，当探针从一个方向变动到另一个方向时，不施加力，但不能拔出探针。然后用1N...
	朗缪尔探针 [摘要]北京飞凯曼公司提供朗缪尔探针测试系统。朗缪尔探针是等离子体性质的诊断方式之一，也是最基本的诊断方式。向等离子体中插入一根极小的电极，然后加上一定的电压，测定通过的电流与所加电压的关系，可以得到探针的电压-电流特性曲线。再根据曲线上的特殊点就可以求得等离子体的密度、电子温度、等离子体电位和悬浮电位。本公司提供的朗缪尔探针，是根据我们科研工作者长期的扎实的理论研究和实际工艺探索，研制的一套适用于等离子体相关参数测试的装置。近年来，经过国内知名院校和科研单位的实际使用和验证，该仪器...
	全球最细测温探针IS-Mini-T-0.184 [摘要]全球最细测温探针0.184mm无痛穿刺测温探头特点针管设计构造在针体至针尖的针管部分采用了锥形构造的基础上，又对针体的形状加以改良，使之更为纤细，从而降低穿刺痛感。且通过缓和椎体的角度，分散针头的用力，确保针的穿刺强度。◆微型测温针规格选型:型号:IS–Mini-T-0.18*4探针长度(单位:mm)探针直径(毫米mm)传感器类型(K/T/J)◆测温探针参数:探针直径-长度:0.18mm-4mm(或订制其它规格)◆超细测温针引线规格:绝缘外层:铁氟龙引线长度:1.5米◆超细测温探头连接端:标准连接器◆针技术式测温仪参数:温度范围:-50~85...
	AFM原子力显微镜探针qp-BioAC-CI [摘要]qp-BioAC-CI探针三个悬臂梁，悬臂梁:力常数0.06N/m0.1N/m0.3N/m;应用范围：生物探针,细胞探针；优势：力常数和共振频率波动范围小，特别适用于的定量纳米力学研究和细胞测试...
	FT-331A四探针法粉末电导率测试仪 [摘要]一、满足标准：1）四探针测试仪满足GB/T1551、GB/T1552-1995，ASTMF84美国A.S.T.M标准。2）四探针法粉末测试平台依据GBT30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中关于粉末电导率的测定方法中用于仲裁方法的四探针法要求制作.二、功能概述：采用高精度集成电路模块；全自动化焊接电路，4.3吋液晶显示器，薄膜按键操作，整体大方，人体工学的结构设计，自带温度，USB，232通讯接口，高精恒直流恒流源系统，提供四探针法和四端法两种测量模式并存，中英两种语言版本选择；选购：PC软件可以获得测试过程数据及...
	FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪 [摘要]FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪广泛用于：覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率导电性油漆，导电性糊状...
	供应15000探针中心温度计 [摘要]型号：1500015000型探针中心温度计是测量产品的中心温度的理想仪器，探针中心温度计自身完全防水，测温反应速度快，在HACCP体系中应用广泛。探针中心温度计非常突出的特点是它具有自动锁定功能（所谓自动锁定功能，就是当您测量某点温度时，探针中心温度计会自动判断温度是否已稳定并锁定稳定的温度值），并且探针中心温度计的探针可以180度旋转，方便您的测量。探针中心温度计特点： 1、°F/°C 双模式 2、最高/最低温度记忆3、LCD液晶显示当前温度4、检测精度高，能自动校准5、防水,具有自动锁定功能6、探头可以18...
	低温探针台 [摘要]北京飞凯曼公司提供连续变温（高低温）真空探针台系统。变温真空微探针台系统设计用于半导体材料如砷化镓（GaAs）、非晶硅碲镉汞等需要低温（70K）至高温（730K）下的测试需要。变温微探针系统可提供精确的温度控制和无振动无噪音的工作环境。该微探针系统具有1到7根独立控制的探针，每根探针带有可三轴移动线缆，可直线移动，可精确定位，定位精度优于50微米，该平台可执行宽范围的测试和实验，包括：材料的电子表针和深层次瞬态光谱的测试。MMR拥有专利的Joule-Thomson温度台提供了低温制冷和高温加热的环境，提供...
	供应试具探针 [摘要]产品名称：试具探针：TZ-13产品概述：符合GB8898-2001：9.1.3、IEC60065标准要求，探针尺寸：直径4?、长度100?。...
	超长探针中心温度计 [摘要]联系方式：13275359196QQ：2533029594用于测量空气、液体、果实内部、大白菜等蔬菜食品中心温度。一、产品特点：1、核心采用16位单片机，配合进口PT1000温度传感器，经过数字化温度校正，达到了很高的测量精度。2、采用不锈钢探针式封装，经过特殊工艺处理，反应速度快，便于使用。3、整机采用防水设计，适合潮湿环境使用。4、低功耗，长寿命，能够自动关机。5、由于采用单片机，用户有特殊要求，可以定制二、技术参数：测温范围：-60℃∽＋200℃（可扩展至：-100℃∽＋300℃）分辩率：0.1℃精确度：±0.1℃电源：DC...
	试验探针探棒符合UL749 图 3 (SB0504A)标准 [摘要]符合UL749图3（SB0504A）标准要求，用于洗碗机的防护试验。...
	供应四探针电阻率测试仪/多晶硅单晶硅分选仪/硅材料测试仪 [摘要] SG-III型四探针电阻率测试仪SG-III型四探针电阻率测试仪是用来测量母合金、晶块、晶片、碎片料、米粒料、头尾料、埚底料、边皮料等材料方块电阻的小型仪器。是生产线上大批量选料的理想仪器，具有简便的比较功能，操作方便。本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计，它主要由电器测量部份（主机）及四探针探头组成(需要时可配测试台)。样品测试电流由高精宽的恒流源提供，随时可进行校准，以确保电阻率测量的准确度。对0.001～1.999Ω*cm标准样片的测量误差不超过±5%。（1）测量范围： ...