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    产品介绍

供应平面光学元件光谱分析仪


平面光学元件光谱分析仪
产品型号: PR-YB01
产品品牌:
产品价格: 面议
所 在 地: 上海 闸北区
发布日期: 2010-06-05

详细说明

测试类型:光学元件的反射、透射光谱测量多角度绝对、相对反射率测量,透射率测量,反射/透射比及膜性测量
适宜测量范围:棱镜、平行平板、镜面等平面光学性能
波长范围:380~1000nm/600~1200nm)
角度位移范围:2.5~357.5°
最小角位移:0.01°
波长分辩率:0.03nm~10nm(由所选波长范围确定)
测量最大相对误差:<1.0%
动态范围:2×108,1300:1(单次测量)
校正线性度:99.8%
单次测量时间:100ms(最小)
功耗:200W
电源: 210~245V - 45~60Hz
信号接口:USB 2.0(USB 1.1 兼容)
操作系统:Windows