 |
产品型号： | WT-2000PV |
| 产品品牌： | Semilab | |
| 产品价格： | 面议 | |
| 所 在 地： | 浙江 宁波市 | |
| 发布日期： | 2009-06-28 | |
 |
||
详细说明
Semilab WT-2000PV 和WT-2000D 测试平台能够对单晶、多晶以及薄膜电池提供快速、无接触、无损伤、高分辨率的多功能扫描或多点测试。测试样品包括：硅棒、硅锭、任何形状的硅片以及电池
WT-2000PVN
－微波光电导衰减法（µ - PCD)测试少数载流子寿命
－表面光电压法（SPV）测试扩散长度
－涡流场法(Eddy)测试体电阻率
－表面光电压法(SPV)测试方块电阻
－多波长光诱导电流(LBIC)测试
－多波长光反射率(Reflectance)测试
－多波长内(外)量子效率(IQE/EQE)测试
－ P型片铁含量(Fe-B)测试
－可调光强的偏置光(Bias Light)选项
主要特点
－独特的µ - PCD探头有效地提高信噪比，能适应低电阻率材料的测试
－可调的微波频率以获得最优化信号，可以满足晶锭的测试需要
－获得专利的表面钝化技术可以降低表面复合速率，以获得体寿命值
－多功能扫描,一台设备可以既测试晶片，也可以测试晶锭
－探头高度自动调节，以适应晶锭的不规则表面
－精度高,重复性好,为业界公认的标准