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产品型号： | NZ-AF210 |
| 产品品牌： | 能兆 | |
| 产品价格： | 面议 | |
| 所 在 地： | 江苏 南京市 | |
| 发布日期： | 2012-06-05 | |
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详细说明
-AF210数字式覆层测厚仪又名涂层测厚仪,是磁性便携式覆层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域，是材料保护专业必备的仪器。
NZ-AF210数字式覆层测厚仪主要特点：
采用了磁性测厚方法，既可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度 ;
具有两种测量方式：连续测量方式（ CONTINUE ）和单次测量方式（ SINGLE ） ;
具有两种工作方式：直接方式（ DIRECT ）和成组方式（ GROUP ）；
设有五个统计量：平均值（ MEAN ）、最大值（ MAX ）、最小值（ MIN ）、测试次数（ NO. ）、标准偏差（ S.DEV ）；
可采用两种方法仪器起进行校准 , 并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正 ;
具有存贮功能：可存贮 500 个测量值；
具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；
可设置限界：对限界外的测量值能自动报警；并可用直方图对一批测量值进行分析；
具有打印功能：可打印测量值、统计值、限界、直方图；
具有与 PC 机通讯的功能：可将测量值、统计值传输至 PC 机，以便对数据进行进一步处理；
具有电源欠压指示功能；
操作工程有蜂鸣声提示；
具有错误提示功能，通过屏显或蜂鸣声进行错误提示；
设有两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式；
NZ/AF210数字式覆层测厚仪参数介绍：
测头类型 F
工作原理 磁感应
测量范围 (µm) 0~1250
低限分辨率 (µm) 0.1
示值 一点校准 (µm) ± (3%H+1)
二点校准 (µm) ± [(1~3%H)+1]
测试条 最小曲率半径 (µm) 凸 1.5
最小面值的直径 (mm) Φ 7
基体临界厚度 (mm) 0.5
NZ/AF210数字式覆层测厚仪测头选用参考表：
覆盖层-基体 有机材料等非磁性覆盖层
(如：漆料、涂料塑料、搪瓷和阳极化处理等) 非磁性的有色金属覆盖层
(如：铬、锌、铝、铜、锡、银等)
如铁、钢等磁性金属 F 性探头
测量范围：0µm~1250µm F 型探头
测量范围：0µm~1250µm