MJLD型吸收率和法向发射率测量装置

	产品型号：	MJLD型吸收率和法向发射率测量装置
	产品品牌：	MJLD型吸收率和法向发射率测量装置
	产品价格：	面议
	所 在 地：	北京 海淀区
	发布日期：	2011-04-21

详细说明

MJLD型吸收率和法向发射率测量装置



产品介绍
MJLD型吸收率和法向发射率测量装置，主要用于测量材料的太阳吸收比和法向发射率。它是将吸收率测量装置和法向发射率测量装置合为一体，配有计算机和专用工作软件，实现自动测量的先进测量设备。本装置是由国防航天军工科技企业和航天著名专家研究员联合研制。是航天系统测量专家的智慧结晶。本设备是国内首创，填补国内测量材料太阳吸收比和法向发射率仪器的空白，同时在测量方法上有进一步的创新。

产品技术指标
法向发射率
测量范围：0.05～0.99；
工作温度范围：-30～80℃；
测量不确定度：当εn＞0.7 为±1.5％；当εn＜0.2 为±5％；其余为2％；
探测器：平面热电堆；
峰值波长：8.4～11μm；

吸收率
测量范围：0.02～0.99；
工作温度范围：-30～80℃；
测量不确定度：当αs＞0.8 为±2.0％；当εn＜0.2 为±4％；其余为2.5％；
积分球直径：Φ150；
光源高色温：220V300W；
探测器：真空平面热电堆；
工作波长：0.35～2.5μm；
用途
测量固体材料的太阳吸收和法向发射特性。

联系电话：010-82461422

E-mail:bjmjld@163.com

QQ :604927991